倪SMU承诺“行业领先”速度、密度和灵活性

国家仪器宣布倪pxie - 4139系统源测量单元(SMU)高性能除了公司SMU的组合。

这个SMU可以降低整体成本的测试,加快上市时间为测试工程师在广泛的行业,从半导体到汽车和消费电子产品。

”倪pxie - 4139,工程师和科学家得到广泛IV边界,包括扩展范围脉冲能力高达500 W和敏感性下降到100 fA,测试范围广泛的设备用一个工具,”卢克Schreier说,高级组经理国家仪器的测试系统。”倪pxie - 4139的紧凑的大小也很重要。它可以显著减少系统足迹与遗产箱仪器smu。”

倪pxie - 4139功能倪SourceAdapt技术来帮助工程师产生最佳SMU回应任何负载通过定制SMU控制回路。这种保护被测设备和提高系统的稳定性。

此外,SMU可以测量为1.8 MS / s,比传统SMU快100倍。这有助于减少测试时间并提供工程师的能力没有外部范围设备捕获瞬态行为。

“重新定义仪器方法是非常必要的,如果你想要跟上现代电子产品越来越复杂,“Schreier说。“SourceAdapt技术,再加上固有的好处PXI模块化仪器和虚拟仪器系统设计软件,给工程师一个竞争优势在减少测试时间和保护他们的测试设备。”

主要特点:

100足总电流测量灵敏度:精确描述高性能半导体器件。

1.8 MS / s采样率:捕获瞬态设备特征没有外部范围。

到17 SMU在4 u 19频道。架空间:现今系统测试系统足迹最小化。

SourceAdapt技术:减少暂态时间改善整体测试时间和保护从过激甚至振荡测试设备高度电感或电容性负载。

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